Index
產品索引
2D/影像量測定位托盤系統
▄ 100-VA
▄ 定位軌道長度 : 100 mm
▄ 托盤規格 : 100 (W) x 100 (L) mm / 1片
▄ 元件數量 : 34 pcs
用於光學測量的定位托盤系統是專為2D系統而
開發，為直接光及透射光的測量提供與三次元接
觸式應用相同的優勢。
2D/影像量測定位托盤系統
▄ 100-VB
▄ 定位軌道長度 : 100 mm
▄ 托盤規格 : 100 (W) x 100 (L) mm / 1片
▄ 元件數量 : 34 pcs
用於光學測量的定位托盤系統是專為2D量測系統
開發，為直接光及透射光的測量提供與三次元接
觸式應用相同的優勢。
磁吸式托盤
▄ 200-VA
▄ 定位軌道長度 : 200 mm
▄ 托盤規格 : 200 (W) x 200 (L) mm / 1片
▄ 元件數量 : 34 pcs
用於光學測量的定位托盤系統是專為2D量測系統
開發，為直接光及透射光的測量提供與三次元接
觸式應用相同的優勢。
2D/影像量測定位托盤系統
▄ 200-VB
▄ 定位軌道長度 : 200 mm
▄ 托盤規格 : 200 (W) x 200 (L) mm / 1片
▄ 元件數量 : 34 pcs
用於光學測量的定位托盤系統是專為2D量測系統
開發，為直接光及透射光的測量提供與三次元接
觸式應用相同的優勢。
2D/影像量測定位托盤系統
▄ 360-VA
▄ 定位軌道長度 : 360 mm
▄ 托盤規格 : 180 (W) x 240 (L) mm / 2片
▄ 元件數量 : 34 pcs
用於光學測量的定位托盤系統是專為2D量測系統
開發，為直接光及透射光的測量提供與三次元接
觸式應用相同的優勢。
2D/影像量測定位托盤系統
▄ 360-VB
▄ 定位軌道長度 : 360 mm
▄ 托盤規格 : 180 (W) x 240 (L) mm / 2片
▄ 元件數量 : 34 pcs
用於光學測量的定位托盤系統是專為2D量測系統
開發，為直接光及透射光的測量提供與三次元接
觸式應用相同的優勢。
