CMM 三次元量測定位托盤系統
▄ 720TB
▄ 定位軌道長度 : 360 mm
▄ 托盤規格 : 180 (W) x 180 (L) mm、180 (W) x 360 (L) mm、
360 (W) x 360 (L) mm / 各一片
▄ 元件數量 : 82 pcs
磁吸式托盤
▄ LNL-M180180
▄ 托盤規格 : 180 (W) x 180 (L) mm
可快速交換、互崁式的磁吸式托盤可快速固定和鬆脫,其內建
的磁性元件可確保完整的結合及重複的定位。20 x 20mm制式
矩陣型孔位,無需工具即可快速組裝。組裝完成後,檢測人員
可針對被夾持物件、夾緊套件進行模組化固定方式的規劃,或
串接擴展磁吸式托盤的數量及面積以因應較大型的工件。
磁吸式托盤
▄ LNL-M180360
▄ 托盤規格 : 180 (W) x 360 (L) mm
可快速交換、互崁式的磁吸式托盤可快速固定和鬆脫,其內建
的磁性元件可確保完整的結合及重複的定位。20 x 20mm制式
矩陣型孔位,無需工具即可快速組裝。組裝完成後,檢測人員
可針對被夾持物件、夾緊套件進行模組化固定方式的規劃,或
串接擴展磁吸式托盤的數量及面積以因應較大型的工件。
磁吸式托盤
▄ LNL-M360360
▄ 托盤規格 : 360 (W) x 360 (L) mm
可快速交換、互崁式的磁吸式托盤可快速固定和鬆脫,其內建
的磁性元件可確保完整的結合及重複的定位。20 x 20mm制式
矩陣型孔位,無需工具即可快速組裝。組裝完成後,檢測人員
可針對被夾持物件、夾緊套件進行模組化固定方式的規劃,或
串接擴展磁吸式托盤的數量及面積以因應較大型的工件。
磁吸式托盤
▄ LNL-M360540
▄ 托盤規格 : 360 (W) x 540 (L) mm
可快速交換、互崁式的磁吸式托盤可快速固定和鬆脫,其內建
的磁性元件可確保完整的結合及重複的定位。20 x 20mm制式
矩陣型孔位,無需工具即可快速組裝。組裝完成後,檢測人員
可針對被夾持物件、夾緊套件進行模組化固定方式的規劃,或
串接擴展磁吸式托盤的數量及面積以因應較大型的工件。
2D/影像量測定位托盤系統
▄ 100-VA
▄ 定位軌道長度 : 100 mm
▄ 托盤規格 : 100 (W) x 100 (L) mm / 1片
▄ 元件數量 : 34 pcs
用於光學測量的定位托盤系統是專為2D系統而
開發,為直接光及透射光的測量提供與三次元接
觸式應用相同的優勢。
2D/影像量測定位托盤系統
▄ 100-VB
▄ 定位軌道長度 : 100 mm
▄ 托盤規格 : 100 (W) x 100 (L) mm / 1片
▄ 元件數量 : 34 pcs
用於光學測量的定位托盤系統是專為2D量測系統
開發,為直接光及透射光的測量提供與三次元接
觸式應用相同的優勢。
磁吸式托盤
▄ 200-VA
▄ 定位軌道長度 : 200 mm
▄ 托盤規格 : 200 (W) x 200 (L) mm / 1片
▄ 元件數量 : 34 pcs
用於光學測量的定位托盤系統是專為2D量測系統
開發,為直接光及透射光的測量提供與三次元接
觸式應用相同的優勢。
2D/影像量測定位托盤系統
▄ 200-VB
▄ 定位軌道長度 : 200 mm
▄ 托盤規格 : 200 (W) x 200 (L) mm / 1片
▄ 元件數量 : 34 pcs
用於光學測量的定位托盤系統是專為2D量測系統
開發,為直接光及透射光的測量提供與三次元接
觸式應用相同的優勢。
2D/影像量測定位托盤系統
▄ 360-VA
▄ 定位軌道長度 : 360 mm
▄ 托盤規格 : 180 (W) x 240 (L) mm / 2片
▄ 元件數量 : 34 pcs
用於光學測量的定位托盤系統是專為2D量測系統
開發,為直接光及透射光的測量提供與三次元接
觸式應用相同的優勢。